搜索【PCB】PCB介电常数测试
2017-08-09 by:CAE仿真在线 来源:互联网
因为PCB材料的Dk和Df很小,需要比较精度高的测试方法。
低频(<1GHz): 平板电容
高频(>1GHz): 谐振法
平板电容法
如图1所示。
图1
平板电容的样品需要3mm左右,50mm*50mm的正方形。如果样品厚度不够,可以多个叠加来测试。
谐振法测试都有一个缺陷:一个夹具测试一个频点,如果要测试多个频点,需要多夹具或者多个sample。真的很讨厌,要是有个方法,能够频率扫描得到Dk和Df就好了。
谐振法主要有SPDR和三板带状线谐振器法。
SPDR(Split Post Dielectrical Resonator)法
如图2所示,
图2
测试不同频率点的Dk和Df,需要用不同的夹具,而且材料的厚度不同。材料要做成薄片,越光滑越好。比如10G的夹具,要求材料厚度小于0.9mm。15G的夹具,要求材料厚度小于0.6mm。
目前有的夹具有1G、3G、 5G、 10G 和15G。
三板带状线谐振器法(IPC‐TM‐6502.5.5.5)
如图3所示。
图3
测试不同频率点的Dk和Df,需要设计不同长度和宽度的trace。需要准备好多sample啊。
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